以及镜面体，透明体等。VK拥有应对多种样品的测量能力（从 1 nm 到 50 mm），纳米/微米/毫米一台完成测量。
1、Basic Characteristics
观察
从光学显微镜到SEM领域一台设备涵盖
42 至 28800 倍
无需对焦
适用于多种样品
测量
非接触瞬间扫描形状
不会损伤目标物
纳米级别也可准确测量
透明体和坡度大的目标物也可测量
分析
希望了解的表面“差异”一目了然
定量化微小形状
轻松比较多个样品
粗糙度分析
https://www.chem17.com/st525722/erlist_2356017.html
https://www.chem17.com/st525722/product_36940586.html 激光共聚焦显微镜